TW ವರ್ಗದ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್ ಲೇಸರ್

TW ವರ್ಗದ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್ ಲೇಸರ್
ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇಪಲ್ಸ್ ಲೇಸರ್ಅತಿ ವೇಗದ ರೇಖಾತ್ಮಕವಲ್ಲದ ವರ್ಣಪಟಲ ಮತ್ತು ಎಕ್ಸ್-ರೇ ವಿವರ್ತನಾ ಚಿತ್ರಣವನ್ನು ಸಾಧಿಸಲು ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿ ಮತ್ತು ಕಡಿಮೆ ನಾಡಿ ಅವಧಿಯು ಪ್ರಮುಖವಾಗಿದೆ. ಯುನೈಟೆಡ್ ಸ್ಟೇಟ್ಸ್‌ನ ಸಂಶೋಧನಾ ತಂಡವು ಎರಡು-ಹಂತದ ಕ್ಯಾಸ್ಕೇಡ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಿತುಎಕ್ಸ್-ರೇ ಮುಕ್ತ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಲೇಸರ್‌ಗಳುಡಿಸ್ಕ್ರೀಟ್ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳನ್ನು ಔಟ್‌ಪುಟ್ ಮಾಡಲು. ಅಸ್ತಿತ್ವದಲ್ಲಿರುವ ವರದಿಗಳೊಂದಿಗೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ, ಪಲ್ಸ್‌ಗಳ ಸರಾಸರಿ ಪೀಕ್ ಪವರ್ ಅನ್ನು ಪರಿಮಾಣದ ಕ್ರಮದಿಂದ ಹೆಚ್ಚಿಸಲಾಗಿದೆ, ಗರಿಷ್ಠ ಪೀಕ್ ಪವರ್ 1.1 TW, ಮತ್ತು ಸರಾಸರಿ ಶಕ್ತಿಯು 100 μJ ಗಿಂತ ಹೆಚ್ಚಾಗಿದೆ. ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಕ್ಷೇತ್ರದಲ್ಲಿ ಸಾಲಿಟಾನ್ ತರಹದ ಸೂಪರ್‌ರೇಡಿಯೇಶನ್ ನಡವಳಿಕೆಗೆ ಈ ಅಧ್ಯಯನವು ಬಲವಾದ ಪುರಾವೆಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ.ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಯ ಲೇಸರ್‌ಗಳುಹೈ-ಫೀಲ್ಡ್ ಫಿಸಿಕ್ಸ್, ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಮತ್ತು ಲೇಸರ್ ಪಾರ್ಟಿಕಲ್ ಆಕ್ಸಿಲರೇಟರ್‌ಗಳು ಸೇರಿದಂತೆ ಹಲವು ಹೊಸ ಸಂಶೋಧನಾ ಕ್ಷೇತ್ರಗಳಿಗೆ ಚಾಲನೆ ನೀಡಿದೆ. ಎಲ್ಲಾ ರೀತಿಯ ಲೇಸರ್‌ಗಳಲ್ಲಿ, ಎಕ್ಸ್-ಕಿರಣಗಳನ್ನು ವೈದ್ಯಕೀಯ ರೋಗನಿರ್ಣಯ, ಕೈಗಾರಿಕಾ ದೋಷ ಪತ್ತೆ, ಸುರಕ್ಷತಾ ತಪಾಸಣೆ ಮತ್ತು ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಸಂಶೋಧನೆಯಲ್ಲಿ ವ್ಯಾಪಕವಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಫ್ರೀ-ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಲೇಸರ್ (XFEL) ಇತರ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಉತ್ಪಾದನಾ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನಗಳಿಗೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ ಹಲವಾರು ಆದೇಶಗಳ ಗರಿಷ್ಠ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸಬಹುದು, ಹೀಗಾಗಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಯ ಅಗತ್ಯವಿರುವಲ್ಲಿ ರೇಖಾತ್ಮಕವಲ್ಲದ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಮತ್ತು ಏಕ-ಕಣ ವಿವರ್ತನೆ ಚಿತ್ರಣ ಕ್ಷೇತ್ರಕ್ಕೆ ಎಕ್ಸ್-ಕಿರಣಗಳ ಅನ್ವಯವನ್ನು ವಿಸ್ತರಿಸುತ್ತದೆ. ಇತ್ತೀಚಿನ ಯಶಸ್ವಿ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ XFEL ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ವಿಜ್ಞಾನ ಮತ್ತು ತಂತ್ರಜ್ಞಾನದಲ್ಲಿ ಪ್ರಮುಖ ಸಾಧನೆಯಾಗಿದ್ದು, ಬೆಂಚ್‌ಟಾಪ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಮೂಲಗಳಿಗೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ ಲಭ್ಯವಿರುವ ಗರಿಷ್ಠ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಆರು ಆದೇಶಗಳಿಗಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ಹೆಚ್ಚಿಸುತ್ತದೆ.

ಉಚಿತ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಲೇಸರ್‌ಗಳುಸಾಪೇಕ್ಷತಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣ ಮತ್ತು ಕಾಂತೀಯ ಆಂದೋಲಕದಲ್ಲಿ ವಿಕಿರಣ ಕ್ಷೇತ್ರದ ನಿರಂತರ ಪರಸ್ಪರ ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಉಂಟಾಗುವ ಸಾಮೂಹಿಕ ಅಸ್ಥಿರತೆಯನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಸ್ವಯಂಪ್ರೇರಿತ ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆ ಮಟ್ಟಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪ್ರಮಾಣದ ಪಲ್ಸ್ ಶಕ್ತಿಗಳನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು. ಹಾರ್ಡ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯಲ್ಲಿ (ಸುಮಾರು 0.01 nm ನಿಂದ 0.1 nm ತರಂಗಾಂತರ), FEL ಅನ್ನು ಬಂಡಲ್ ಕಂಪ್ರೆಷನ್ ಮತ್ತು ಪೋಸ್ಟ್-ಸ್ಯಾಚುರೇಶನ್ ಕೋನಿಂಗ್ ತಂತ್ರಗಳಿಂದ ಸಾಧಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಮೃದುವಾದ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯಲ್ಲಿ (ಸುಮಾರು 0.1 nm ನಿಂದ 10 nm ತರಂಗಾಂತರ), FEL ಅನ್ನು ಕ್ಯಾಸ್ಕೇಡ್ ಫ್ರೆಶ್-ಸ್ಲೈಸ್ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನದಿಂದ ಕಾರ್ಯಗತಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಇತ್ತೀಚೆಗೆ, 100 GW ಗರಿಷ್ಠ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳನ್ನು ವರ್ಧಿತ ಸ್ವಯಂ-ವರ್ಧಿತ ಸ್ವಯಂಪ್ರೇರಿತ ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆ (ESASE) ವಿಧಾನವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಉತ್ಪಾದಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಎಂದು ವರದಿಯಾಗಿದೆ.

ಸಂಶೋಧನಾ ತಂಡವು ಲಿನಾಕ್ ಕೊಹೆರೆಂಟ್‌ನಿಂದ ಮೃದುವಾದ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಪಲ್ಸ್ ಔಟ್‌ಪುಟ್ ಅನ್ನು ವರ್ಧಿಸಲು XFEL ಆಧಾರಿತ ಎರಡು-ಹಂತದ ವರ್ಧನಾ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯನ್ನು ಬಳಸಿತು.ಬೆಳಕಿನ ಮೂಲವರದಿಯಾದ ಫಲಿತಾಂಶಗಳಿಗಿಂತ TW ಮಟ್ಟಕ್ಕೆ, ಪರಿಮಾಣದ ಸುಧಾರಣೆಯ ಕ್ರಮ. ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಸೆಟಪ್ ಅನ್ನು ಚಿತ್ರ 1 ರಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ. ESASE ವಿಧಾನವನ್ನು ಆಧರಿಸಿ, ಹೆಚ್ಚಿನ ಕರೆಂಟ್ ಸ್ಪೈಕ್‌ನೊಂದಿಗೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣವನ್ನು ಪಡೆಯಲು ಫೋಟೊಕ್ಯಾಥೋಡ್ ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆಯನ್ನು ಮಾಡ್ಯುಲೇಟ್ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಚಿತ್ರ 1 ರ ಮೇಲಿನ ಎಡ ಮೂಲೆಯಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಿರುವಂತೆ ಆರಂಭಿಕ ಪಲ್ಸ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣದ ಸ್ಪೈಕ್‌ನ ಮುಂಭಾಗದ ಅಂಚಿನಲ್ಲಿದೆ. XFEL ಸ್ಯಾಚುರೇಶನ್ ಅನ್ನು ತಲುಪಿದಾಗ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣವು ಕಾಂತೀಯ ಸಂಕೋಚಕದಿಂದ ಎಕ್ಸ್-ರೇಗೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ ವಿಳಂಬವಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ನಂತರ ಪಲ್ಸ್ ESASE ಮಾಡ್ಯುಲೇಷನ್ ಅಥವಾ FEL ಲೇಸರ್‌ನಿಂದ ಮಾರ್ಪಡಿಸದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣದೊಂದಿಗೆ (ತಾಜಾ ಸ್ಲೈಸ್) ಸಂವಹನ ನಡೆಸುತ್ತದೆ. ಅಂತಿಮವಾಗಿ, ತಾಜಾ ಸ್ಲೈಸ್‌ನೊಂದಿಗೆ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳ ಪರಸ್ಪರ ಕ್ರಿಯೆಯ ಮೂಲಕ ಎಕ್ಸ್-ರೇಗಳನ್ನು ಮತ್ತಷ್ಟು ವರ್ಧಿಸಲು ಎರಡನೇ ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಅನ್‌ಡ್ಯುಲೇಟರ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.

ಚಿತ್ರ 1 ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಸಾಧನ ರೇಖಾಚಿತ್ರ; ವಿವರಣೆಯು ರೇಖಾಂಶದ ಹಂತದ ಸ್ಥಳ (ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಸಮಯ-ಶಕ್ತಿ ರೇಖಾಚಿತ್ರ, ಹಸಿರು), ಪ್ರಸ್ತುತ ಪ್ರೊಫೈಲ್ (ನೀಲಿ), ಮತ್ತು ಮೊದಲ-ಕ್ರಮಾಂಕದ ವರ್ಧನೆಯಿಂದ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ ವಿಕಿರಣ (ನೇರಳೆ) ಗಳನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ. XTCAV, X-ಬ್ಯಾಂಡ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ವರ್ಸ್ ಕುಹರ; cVMI, ಏಕಾಕ್ಷ ಕ್ಷಿಪ್ರ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ವ್ಯವಸ್ಥೆ; FZP, ಫ್ರೆಸ್ನೆಲ್ ಬ್ಯಾಂಡ್ ಪ್ಲೇಟ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್

ಎಲ್ಲಾ ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳು ಶಬ್ದದಿಂದ ನಿರ್ಮಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿವೆ, ಆದ್ದರಿಂದ ಪ್ರತಿ ಪಲ್ಸ್ ವಿಭಿನ್ನ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಲ್ ಮತ್ತು ಸಮಯ-ಡೊಮೇನ್ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಇದನ್ನು ಸಂಶೋಧಕರು ಹೆಚ್ಚು ವಿವರವಾಗಿ ಅನ್ವೇಷಿಸಿದ್ದಾರೆ. ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಾ ವಿಷಯದಲ್ಲಿ, ಅವರು ವಿಭಿನ್ನ ಸಮಾನವಾದ ಅನ್‌ಡ್ಯುಲೇಟರ್ ಉದ್ದಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರತ್ಯೇಕ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಾವನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಫ್ರೆಸ್ನೆಲ್ ಬ್ಯಾಂಡ್ ಪ್ಲೇಟ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಿದರು ಮತ್ತು ದ್ವಿತೀಯ ವರ್ಧನೆಯ ನಂತರವೂ ಈ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಾಗಳು ನಯವಾದ ತರಂಗರೂಪಗಳನ್ನು ನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತಿವೆ ಎಂದು ಕಂಡುಕೊಂಡರು, ಇದು ಪಲ್ಸ್‌ಗಳು ಏಕರೂಪವಾಗಿ ಉಳಿದಿವೆ ಎಂದು ಸೂಚಿಸುತ್ತದೆ. ಸಮಯದ ಡೊಮೇನ್‌ನಲ್ಲಿ, ಕೋನೀಯ ಅಂಚನ್ನು ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಪಲ್ಸ್‌ನ ಸಮಯ ಡೊಮೇನ್ ತರಂಗರೂಪವನ್ನು ನಿರೂಪಿಸಲಾಗಿದೆ. ಚಿತ್ರ 1 ರಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಿರುವಂತೆ, ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್ ಅನ್ನು ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಧ್ರುವೀಕೃತ ಅತಿಗೆಂಪು ಲೇಸರ್ ಪಲ್ಸ್‌ನೊಂದಿಗೆ ಅತಿಕ್ರಮಿಸಲಾಗಿದೆ. ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್‌ನಿಂದ ಅಯಾನೀಕರಿಸಲ್ಪಟ್ಟ ಫೋಟೊಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಅತಿಗೆಂಪು ಲೇಸರ್‌ನ ವೆಕ್ಟರ್ ವಿಭವಕ್ಕೆ ವಿರುದ್ಧ ದಿಕ್ಕಿನಲ್ಲಿ ಗೆರೆಗಳನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತವೆ. ಲೇಸರ್‌ನ ವಿದ್ಯುತ್ ಕ್ಷೇತ್ರವು ಸಮಯದೊಂದಿಗೆ ತಿರುಗುವುದರಿಂದ, ಫೋಟೊಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಆವೇಗ ವಿತರಣೆಯನ್ನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆಯ ಸಮಯದಿಂದ ನಿರ್ಧರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆಯ ಸಮಯದ ಕೋನೀಯ ಮೋಡ್ ಮತ್ತು ಫೋಟೊಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಆವೇಗ ವಿತರಣೆಯ ನಡುವಿನ ಸಂಬಂಧವನ್ನು ಸ್ಥಾಪಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಫೋಟೊಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಆವೇಗದ ವಿತರಣೆಯನ್ನು ಏಕಾಕ್ಷ ವೇಗದ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್ ಬಳಸಿ ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ವಿತರಣೆ ಮತ್ತು ರೋಹಿತದ ಫಲಿತಾಂಶಗಳ ಆಧಾರದ ಮೇಲೆ, ಅಟೋಸೆಕೆಂಡ್ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳ ಸಮಯ-ಡೊಮೇನ್ ತರಂಗರೂಪವನ್ನು ಪುನರ್ನಿರ್ಮಿಸಬಹುದು. ಚಿತ್ರ 2 (ಎ) ಪಲ್ಸ್ ಅವಧಿಯ ವಿತರಣೆಯನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ, ಸರಾಸರಿ 440 ರಂತೆ. ಅಂತಿಮವಾಗಿ, ಪಲ್ಸ್ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಅನಿಲ ಮೇಲ್ವಿಚಾರಣಾ ಶೋಧಕವನ್ನು ಬಳಸಲಾಯಿತು, ಮತ್ತು ಚಿತ್ರ 2 (ಬಿ) ನಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಿರುವಂತೆ ಪೀಕ್ ಪಲ್ಸ್ ಪವರ್ ಮತ್ತು ಪಲ್ಸ್ ಅವಧಿಯ ನಡುವಿನ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ ಪ್ಲಾಟ್ ಅನ್ನು ಲೆಕ್ಕಹಾಕಲಾಯಿತು. ಮೂರು ಸಂರಚನೆಗಳು ವಿಭಿನ್ನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸುವ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳು, ವೇವರ್ ಕೋನಿಂಗ್ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳು ಮತ್ತು ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಕಂಪ್ರೆಸರ್ ವಿಳಂಬ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳಿಗೆ ಅನುಗುಣವಾಗಿರುತ್ತವೆ. ಮೂರು ಸಂರಚನೆಗಳು ಕ್ರಮವಾಗಿ 150, 200 ಮತ್ತು 260 µJ ನ ಸರಾಸರಿ ಪಲ್ಸ್ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ನೀಡಿತು, ಗರಿಷ್ಠ ಗರಿಷ್ಠ ಶಕ್ತಿ 1.1 TW.

ಚಿತ್ರ 2. (ಎ) ಅರ್ಧ-ಎತ್ತರದ ವಿತರಣಾ ಹಿಸ್ಟೋಗ್ರಾಮ್ ಪೂರ್ಣ ಅಗಲ (FWHM) ಪಲ್ಸ್ ಅವಧಿ; (ಬಿ) ಗರಿಷ್ಠ ಶಕ್ತಿ ಮತ್ತು ಪಲ್ಸ್ ಅವಧಿಗೆ ಅನುಗುಣವಾದ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ ಪ್ಲಾಟ್

ಇದರ ಜೊತೆಗೆ, ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಬ್ಯಾಂಡ್‌ನಲ್ಲಿ ಸಾಲಿಟಾನ್ ತರಹದ ಸೂಪರ್‌ಎಮಿಷನ್ ವಿದ್ಯಮಾನವನ್ನು ಮೊದಲ ಬಾರಿಗೆ ಅಧ್ಯಯನವು ಗಮನಿಸಿದೆ, ಇದು ವರ್ಧನೆಯ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ನಿರಂತರ ಪಲ್ಸ್ ಸಂಕ್ಷಿಪ್ತವಾಗಿ ಕಾಣಿಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಇದು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಮತ್ತು ವಿಕಿರಣದ ನಡುವಿನ ಬಲವಾದ ಪರಸ್ಪರ ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಉಂಟಾಗುತ್ತದೆ, ಶಕ್ತಿಯು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನಿಂದ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್‌ನ ತಲೆಗೆ ಮತ್ತು ಪಲ್ಸ್‌ನ ಬಾಲದಿಂದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗೆ ವೇಗವಾಗಿ ವರ್ಗಾವಣೆಯಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ವಿದ್ಯಮಾನದ ಆಳವಾದ ಅಧ್ಯಯನದ ಮೂಲಕ, ಸೂಪರ್‌ರೇಡಿಯೇಶನ್ ವರ್ಧನೆ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ವಿಸ್ತರಿಸುವ ಮೂಲಕ ಮತ್ತು ಸಾಲಿಟಾನ್ ತರಹದ ಮೋಡ್‌ನಲ್ಲಿ ಪಲ್ಸ್ ಸಂಕ್ಷಿಪ್ತಗೊಳಿಸುವಿಕೆಯ ಲಾಭವನ್ನು ಪಡೆಯುವ ಮೂಲಕ ಕಡಿಮೆ ಅವಧಿ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ಪೀಕ್ ಪವರ್ ಹೊಂದಿರುವ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪಲ್ಸ್‌ಗಳನ್ನು ಮತ್ತಷ್ಟು ಅರಿತುಕೊಳ್ಳಬಹುದು ಎಂದು ನಿರೀಕ್ಷಿಸಲಾಗಿದೆ.